Event Information
- 会期
- 2024.07.12（金）
- 会場
- 三田NNホール（東京）
ご好評をいただいております技術講演会を、今年も開催いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。
開催概要
日時：2024年 7月 12日（金）13:00～17:00（受付開始 12:30）
会場：三田NNホール（東京）
プログラム
| 13:00 開会 アルバック・ファイ株式会社 製品戦略部 飯田 真一 『TOF-SIMSにおける自動測定 効率的なデータ収集に向けて』 アルバック・ファイ株式会社 寺島 雅弘 『PHI GENESISを用いた半導体材料の評価』 ー 休憩 ー 14:20 国立研究開発法人 物質・材料研究機構 マテリアル基盤研究センター 永田 賢二 様 『ベイズ推定が拓くスペクトル解析とXPS計測への展開』 15:05 株式会社東レリサーチセンター 表面科学研究部 部長 鮫島 純一郎 様 『産業界における表面分析手法の活用事例』 ー 休憩 ー 16:15 広島大学 半導体産業技術研究所 所長 寺本 章伸 様 『半導体デバイスにおける薄膜の表面・界面分析』 17:00 閉会 懇親会 ※ 進行によって時間は前後する可能性があります。 |
お知らせと注意事項
- ご参加は無料です。
- ご参加は当社のお客様に限らせていただきます。
- 定員になり次第、申込を締め切らせていただきます。
- プログラムは予告なしに変更する場合がございます。
- 当日のプログラムは、本ページ内にて随時更新いたします。
会場のご案内
三田NNホール 【アクセス】
東京都港区芝4-1-23 三田NNビル地下1階
JR山手線・京浜東北線 「田町駅」三田口（西口）より徒歩5分
地下鉄 都営三田線 三田駅直結（A9出口）／地下鉄 都営浅草線 三田駅 徒歩3分