Event Information 会期 2025.07.23（水） 対象 一般 第2回「サンプリングと粉体・複合材料の測定」 XPSは表面から数nmのごく浅い領域を分析するため、試料の取り扱い方ひとつで結果が大きく変わります。今回はそのためのサンプリングの基本から、近年ニーズが高まっている粉体試料の扱い方、そして複合材料—特に電池材料の帯電対策まで、現場の視点でわかりやすく解説します。 #オンラインセミナー SHARE