XPSによるモザイクマッピング操作方法

オンラインセミナー 2025.08.26

Event Information

会期
2025.08.26（火）
対象
当社表面分析装置をお使いの方

【概要】
PHI XPS装置の独自技術である走査X線励起二次電子イメージング（SXI）を活用し、ステージを移動しながら広域モザイクマップを自動取得する手法についてご紹介します。最大1400 μm×1400 μmの範囲を超えて、試料全体の組成や化学状態の違いを可視化するモザイクマッピングの使用方法と、実際の測定事例をわかりやすく解説します。

#オンラインセミナー
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