アルバック・ファイ ユーザーズミーティング

ユーザーズミーティング 2026.02.06

Event Information

会期
2026.02.06(金)
会場
ホテルグランヴィア京都
ユーザーズミーテイング2026 発表詳細 →

当社の表面分析装置(XPS, AES, SIMS)をお使いの皆様を対象に開催いたします。

お使いの装置に関する日頃の疑問解消の場、今後の参考になる情報を得る場として
ご活用いただければ幸いです。皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要

日時:2026年 2月 6日(金)13:00~17:00(受付開始 12:30)
会場:ホテル グランヴィア京都 5F 竹取の間
定員:100名
申込締切:2026年1月30日(金)

–  ホテルグランヴィア京都 アクセス https://www.granvia-kyoto.co.jp/access/

プログラム

13:00 開会

ユーザー様ご発表

  • JSR株式会社 物性分析室 中村 立 様「高分子材料開発における表面分析の活用事例のご紹介」
  • 積水化学工業株式会社 高機能プラスチックカンパニー 開発研究所
    先端技術センター 評価分析グループ 李 艶 様
    「機械学習によるTOF-SIMSおよびXPSの活用事例紹介」
  • 株式会社東レリサーチセンター 表面科学研究部 宮田 洋明 様 坂田 智裕 様「東レリサーチセンターにおけるXPS を中心とする表面分析の事例紹介」

アルバック・ファイより

  • ソリューション開発部
    • 課題解決を支える当社分析技術とソリューション
    • 簡単操作を実現するPHI GENESISソフトウェアのご紹介
    • 安定したAES測定を実現する帯電中和改善
  • カスタマーサービス部からのお知らせ
  • 営業部からのお知らせ
16:40 閉会
17:00 懇親会
※ 途中で複数回の休憩があります。
※ 進行によって時間は前後する可能性があります。

お知らせと注意事項

  • 本イベントへのご参加は、当社装置のユーザー様に限らせていただきます。
  • 本イベントへのご参加は、懇親会も含めて無料です。
  • 当日のプログラムや詳細は、本ページ内にて随時更新いたします。
  • スケジュールは予告なく変更する場合があります。

CONTACT

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