Event Information
- 会期
- 2026.03.15（日） — 18（水）
- 会場
- 東京科学大学 大岡山キャンパス
- 入場料
- 無料 ※昼食をご用意しております
日 時：2026年3月15日（日）～18日（水）
会 場：東京科学大学 大岡山キャンパス
当社は、株式会社堀場テクノサービス様と共同で出展およびランチョンセミナーを開催いたします。
ぜひお越しください。
ランチョンセミナー
日 程：2026年 3月15日（日）11:50- 12:30
会 場：W2-401（西2号館）/ 50名収容会場
費 用：無料 ※昼食をご用意しております
演 題：XRFとXPSを組み合わせた先端材料の評価
スピーカー：アルバック・ファイ株式会社 橋本 真希
株式会社堀場テクノサービス 泉 悠樹
概 要
材料やデバイスの高機能化により層構造は複雑化し、異常の原因を単一手法だけで捉えることが難しくなっています。そこで、元素分布を捉える分析と、化学結合状態や深さ方向の変化を解析する手法を組み合わせ、相補的に評価するマルチモーダル解析が重要になります。
本セミナーでは、次世代自動車用として注目される固体高分子形燃料電池（PEFC）を対象に、μ-XRFとXPSを組み合わせた燃料電池用電極膜（CCM）の解析事例を紹介します。さらに、ハードディスクドライブ材料に対しても、XRFやRF-GD-OESとXPSを組み合わせた適用例を示し、複雑な材料・層構造の評価における有効性を解説します。
ランチョンセミナー参加方法
公式サイトの参加申込よりお申し込みのうえ、ご参加ください。
ランチョンセミナーにも別途お申し込みが必要となります（無料）。
なお、ランチョンセミナーは学術講演会参加者のみご参加いただけます。
展示（ポスターセッション会場）
1-26（屋内運動場 PA（1F アリーナ））
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