NEW
PHI GENESIS
フルオート多機能走査型X線光電子分光分析装置
製品情報
X線光電子分光分析装置 XPS
NEW
PHI Quantera II
さらなる微小領域自動分析を可能にした世界最高性能のXPS
PHI Quantes
硬X線と従来の軟X線の２線源を搭載し、新しい分野を切り開くXPS
PHI X-tool
簡単操作で様々な目的に合わせた測定ができる高性能走査型XPSを低価格で実現
PHI VersaProbe 4
進化した多機能XPS
高感度 高信頼性 高拡張性をこの1台に
走査型オージェ電子分光分析装置 AES
飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS
