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X線光電子分光分析装置 XPS

XPS

 

走査型オージェ電子分光分析装置 AES

AES

PHI 710

8 nm 以下のオージェ電子空間分解能を保証している世界唯一のオージェ電子分光分析装置

 
 
 
 

飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS

TOF-SIMS

 

四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS

D-SIMS

高速分光エリプソメーター

製品情報 高速分光エリプソメーター

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