製品情報

X線光電子分光分析装置 XPS

XPS

PHI X-tool

簡単操作で様々な目的に合わせた測定ができる高性能走査型XPSを低価格で実現

走査型オージェ電子分光分析装置 AES

AES

PHI 710

8 nm 以下のオージェ電子空間分解能を保証している世界唯一のオージェ電子分光分析装置

 
 
 
 

飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS

TOF-SIMS

NEW

PHI nanoTOF II™

新しい一次イオン銃により基本性能が大幅に向上、さらに刷新したソフトウェアにより快適な操作環境をご提供

 

四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS

D-SIMS

各種サービス

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