10:30　開会

 アルバック・ファイ 分析室
 「表面分析の可能性を拡げる最新技術のご紹介 ー HAXPES, UPS/LEIPS, MS/MS ー」
　
 アルバック・ファイ 技術開発部
 「快適なデータ処理環境と自動化を実現した新しい解析ソフトウェアのご紹介」
 　　＊XPSおよびAESの解析ソフトウェアの紹介です。

    ー 昼休憩 ー

13:30　午後の部

公益財団法人 福岡県産業・科学技術振興財団
有機光エレクトロニクス実用化開発センター(i³-opera)　藤本 弘 様
「有機ELデバイスの長寿命化と劣化機構の解明」
　
三井金属鉱業 株式会社　機能材料事業本部
機能材料研究所　評価解析技術センター　和田 充弘 様
「機能性材料の開発における評価解析技術活用事例のご紹介」
　
    ー コーヒーブレーク ー
　
住友電気工業株式会社　元 解析技術研究センター長　山口 章 様
（現 公益財団法人 高輝度光科学研究センター）
「企業における解析技術の活用について」　

17:00　閉会

　＊技術講演会終了後に懇親会をご用意しております。ぜひご参加ください。