2線源搭載ラボ型HAXPESで拡がる応用範囲

2019.08.22 UpdateTOPICS

2線源搭載ラボ型HAXPESで拡がる応用範囲

XPS および HAXPES スペクトルが取得できる「PHI Quantes」の最新情報をご案内いたします。

HAXPES も XPS と同様に信頼性の高いスペクトル取得が可能となり、表面分析の可能性が拡がっています。検出深さや軌道の選択範囲が広がり、さらに角度分解XPSの適用可能範囲も拡大しました。

これまでの表面だけでなく、埋もれた界面の分析から界面の検出まで、新たな応用が期待できます。


最新の技術資料として、2019年6月に開催した技術講演会の当社発表資料を掲載しました。(クラブ・ファイ装置ユーザー会員様限定では公開済み)

 

装置情報リンク

XPS

X線光電子分光分析装置 XPS

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