ToF-SIMS: Materials Analysis by Mass Spectrometry, 2nd edition.

SurfaceSpectra製品は、表面分析を支援する「経験」と「知恵」の宝庫です。
SurfaceSpectraは、スタティックSIMSデータベースとポリマー XPSスペクトルデータベースを中心に、実用分析を支援する知識（ナレッジ）・システムを提供しています。

特長

Edited by John C. Vickerman and David Briggs

TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法）の英語版解説書です。
従来の表面分析の教科書は、スタティックSIMS、TOF-SIMSについて若干の紙面を割いて解説していましたが、いまやSIMSの中心となりつつあるTOF-SIMSについて、総合的な解説書といえるものはありませんでした。

本書はTOF-SIMSの基礎的な知見と多面的な応用を幅広く記述した、世界初の教科書です。第二版では、クラスターイオンの利用についての記述が大幅に追加されています。

特に「分析への応用」について、詳しく解説されているのが特長です。

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