Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy

Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy

Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy

SurfaceSpectra製品は、表面分析を支援する「経験」と「知恵」の宝庫です。
SurfaceSpectraは、スタティックSIMSデータベースとポリマー XPSスペクトルデータベースを中心に、実用分析を支援する知識(ナレッジ)・システムを提供しています。

特長

Edited by David Briggs and John T. Grant

本書はBriggs and Seah編集の定評ある教科書『Practical Surface Analysis』(第一巻)の最新改訂版を目指して編集されたAES (オージェ電子分光法)とXPS(X線光電子分光法、ESCA)の英語版解説書です。
今日、AESとXPSは表面および界面の分析手法として広く実用的に用いられるようになりましたが、最近十年の装置および解析手法の進歩は目覚しいものが あります。本書はこれらの最新のデータをアップデートし、広く研究者・分析担当者の座右におくべき参考書としてまとめられました。


 

AESとXPSについてもっと知りたい方は

AESとは

AESの原理や特長をご紹介します。

XPSとは

XPSの原理や特長をご紹介します。

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