新製品を掲載しました

2016.05.09 UpdatePRODUCT

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多機能走査型X線光電子分光分析装置 (XPS)

PHI 5000 VersaProbe III NEW

Key Technology

・独自のハードウェアによる高感度マイクロ分析
・信頼性の高い自動化技術
・究極の深さ方向分解能を追求したハードウェア
・豊富なオプション


 

走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)

PHI 4800 NEW

PHI 4800 Thim Film Analyzer 全体図

Key Technology

・最高感度の次世代オージェ
・微小部の化学状態分析
・絶縁物を容易に帯電中和
・自動測定による高いスループット分析