アルバック・ファイ　ユーザーズミーティング

当社の表面分析装置（XPS, AES, SIMS）をお使いの皆様を対象に開催いたします。

お使いの装置に関する日頃の疑問解消の場、今後の参考になる情報を得る場として
ご活用いただければ幸いです。皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要

13:00　開会

■ キヤノン株式会社　村山陽平様
　「TOF-SIMSによるトナー粒子の分析事例紹介」

■ 国立研究開発法人産業技術総合研究所　大塚照久様
　「産総研NPFの原子層堆積装置複合化XPS分析装置とその解析事例紹介」

■ 日本パーカライジング株式会社　田口秀之様
　「ベイズスペクトル超解像によるXPS測定の高速化検討」

15:30

■ Application のご紹介
○ Al Ka線とCr Ka線の情報深さの違いを利用したXPS・HAXPES分析事例
○ 最新TOF-SIMS装置による分析事例の最前線

■ リモート接続のご紹介
○ リモート操作・診断の実際の様子をお見せします

16:40　閉会

17:00　懇親会

※ 途中で複数回の休憩があります。
※ 進行によっては時間は前後する可能性があります。