アルバック・ファイ ユーザーズミーティング

本イベントは終了いたしました。多くの皆様にご来場をいただき、誠にありがとうございました。

アルバック・ファイ ユーザーズミーティング

当社の表面分析装置(XPS, AES, SIMS)をお使いの皆様を対象に
今年は、当社の本社・工場・分析室(茅ヶ崎/神奈川)で開催いたします。

例年、ユーザー発表を中心とたプログラムですが、
今回は工場見学と当社からの最新情報を中心に実施いたします。

当社は昨年8月に本社と工場を、今年2月に分析室を株式会社アルバックの敷地内に移転いたしました。移転が完了してから初めての開催となる今回は、新しくなった分析室や工場をご見学いただくとともに、 日頃の疑問解消の場としてご活用いただけるよう、企画を進めております。

皆様のご参加をお待ちしております。

 


開催概要(XPS, AES, SIMS 合同開催)

本イベントへのご参加は、当社表面分析装置のユーザー様に限らせていただきます。

日時:2019年 2月 19日(火)13:30~
会場:アルバック・ファイ株式会社 本社・工場・分析室 (茅ヶ崎/神奈川) 


*ご来場の際は、下記リンク(会場へのアクセス方法)をご確認ください。

 


プログラム

13:30~

最新の表面分析オプション・アプリケーションのご紹介

・XPS:PHI 5000 VersaProbe IIIの最新オプション [LEIPS, REELS]
・HAXPES/XPS:PHI Quantesのアプリケーション紹介
・AES:波形分離による状態解析例の紹介
・TOF-SIMS:最新のTOF-SIMS応用事例紹介

最新の技術トピックス

「XPSデータ可読化ツールの無償公開」
 国立研究開発法人 物質・材料研究機構(NIMS)
 材料データプラットフォームセンター
 鈴木 峰晴 様


休憩


14:50~

ソフトウェアの最新情報

・Windows 10 へのアップデートに関するご案内
・アプリケーション ソフトウェア の新機能紹介
・開発中のデータ解析ソフトウェアのご紹介

ユーザーサポート情報のご紹介

工場見学

・新しくなった分析室、製造現場をご案内いたします。
・見学時間の中で、ソフトウェアのデモンストレーションを実施予定。

17:15~

懇親会

*懇親会終了後、茅ヶ崎駅で解散となります(19:15頃を予定)

 


参加費:無料
申込締切:2019年 2月 8日(金) (受付を終了しました)

  • 定員になり次第、締め切らせていただくことがございます。
  • 本イベントへのご参加は、当社表面分析装置のユーザー様に限らせていただきます。