アルバック・ファイ　ユーザーズミーティング

アルバック・ファイ　ユーザーズミーティング

当社の表面分析装置（XPS, AES, SIMS）をお使いの皆様を対象に開催いたします。

お使いの装置に関する日頃の疑問解消の場、今後の参考になる情報を得る場として
ご活用いただければ幸いです。皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要

日時：2026年 2月 6日（金）13:00～17:00（受付開始 12:30）
会場：ホテル　グランヴィア京都　5F 竹取の間
定員：100名
申込締切：2026年1月30日（金）

- ホテルグランヴィア京都　アクセス https://www.granvia-kyoto.co.jp/access/

お申込みはこちら

ユーザー様ご発表

■JSR株式会社 物性分析室　中村立 様
　「高分子材料開発における表面分析の活用事例のご紹介」

■積水化学工業株式会社 高機能プラスチックカンパニー開発研究所
先端技術センター評価分析グループ　李艶 様
　「TOF-SIMS 及び XPSの活用実例紹介（仮）」

■株式会社東レリサーチセンター表面科学研究部　宮田洋明 様　坂田智裕 様
　「東レリサーチセンターにおけるXPS を中心とする表面分析の事例紹介」

お知らせと注意事項

本イベントへのご参加は、当社装置のユーザー様に限らせていただきます。
本イベントへのご参加は、懇親会も含めて無料です。
当日のプログラムや詳細は、本ページ内にて随時更新いたします。
スケジュールは予告なく変更する場合があります。