アルバック・ファイ　ユーザーズミーティング

本イベントは終了しました。大変多くのお客様にご来場いただき、誠にありがとうございました。

当社の表面分析装置（XPS, AES, SIMS）をお使いの皆様を対象に開催いたします。

お使いの装置に関する日頃の疑問解消の場、今後の参考になる情報を得る場として
ご活用いただければ幸いです。皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要

- ホテルグランヴィア京都　アクセス https://www.granvia-kyoto.co.jp/access/

13:00　開会

■JSR株式会社 物性分析室　中村立 様
　「高分子材料開発における表面分析の活用事例のご紹介」

■積水化学工業株式会社 高機能プラスチックカンパニー開発研究所
先端技術センター評価分析グループ　李艶 様
　「機械学習によるTOF-SIMSおよびXPSの活用事例紹介」

■株式会社東レリサーチセンター表面科学研究部　宮田洋明 様　坂田智裕 様
　「東レリサーチセンターにおけるXPS を中心とする表面分析の事例紹介」

詳しい発表内容はこちら

ユーザーズミーテイング2026 発表詳細

15:30

■ ソリューション開発部
○ 課題解決を支える当社分析技術とソリューション
○ 簡単操作を実現するPHI GENESISソフトウェアのご紹介
○ 安定したAES測定を実現する帯電中和改善

■ カスタマーサービス部からのお知らせ

■ 営業部からのお知らせ

16:40　閉会

17:00　懇親会

※ 途中で複数回の休憩があります。
※ 進行によって時間は前後する可能性があります。