アルバック・ファイ ユーザーズミーティング

本イベントは終了しました。

アルバック・ファイ ユーザーズミーティング

毎年ご好評頂いております【 ユーザーズミーティング 】 を本年度も開催いたします。
本年は従来とは趣向を変え、XPS, AES, SIMS を合同で開催することとなりました。
各手法の枠にとらわれないユーザー様同士の情報交換の場となれば幸いです。
皆様のご参加をお待ちしております。

開催日時(XPS, SIMS, AES 合同開催)

2016/2/10(水)10:30~17:00 (受付開始 10:00~)

プログラム

午前 [10:30~12:00]

アルバック・ファイ 分析室より

「ラボ型 硬X線光電子分光分析装置を用いた測定事例の紹介」
「MS/MSを搭載した PHI nanoTOF II を用いた有機材料のスペクトル解析」
「海外学会動向 ~SIMS XX, ECASIA'15, AVS-62~」 


昼休憩


午後 [13:30~17:00]

ユーザー様ご発表

東芝ナノアナリシス株式会社 佐瀬 輝彦 様
「放射光および実験室HAXPESを利用した応用事例の紹介」

国立研究開発法人物質・材料研究機構 石田 暢之 様
「走査型オージェ電子顕微鏡 (SAM) によるリチウムの化学状態分析」

花王株式会社 岡本 昌幸 様
「TOF-SIMSによる毛髪最表面の構造解析」

旭硝子株式会社 山本 雄一 様
「D-SIMSによるガラス中水素の深さ方向プロファイル分析」

(ご発表順)


コーヒーブレイク


自由討論

事前にお寄せいただいた質問の中から手法ごとに議題を設定し、ユーザー様同士が自由に討論いただける時間を設けました。どうぞお気軽にご発言ください。

  • XPS:「粉体試料の測定について」
  • AES:「絶縁物の測定について」
  • TOF-SIMS:「ピークアサインについて」
  • D-SIMS:「測定の再現性について」

アルバック・ファイ 営業部より

「ニーズに合わせたカスタム事例のご紹介」


ユーザーズミーティング終了後に懇親会をご用意しておりますので、ぜひご参加ください。

  • スケジュールは予告なしに変更する場合があります。
  • 本イベント(午前・午後)へのご参加は無料です。
  • 本イベントへのご参加は当社装置のユーザー様に限らせていただきます。
  • 最新情報はホームページにて随時配信いたします。

会場のご案内

三田NNホール&スペース

http://www.mita-nn-hall.com/access/access.html

東京都港区4-1-23 三田NNビル地下1階

  • JR田町駅 徒歩5分
  • 都営三田線 三田駅直通(A9出口)
  • 都営浅草線 三田駅 徒歩3分