SIMS ユーザーズミーティング

本イベントは終了いたしました。多数の皆様にご来場いただき、誠にありがとうございました。

SIMS ユーザーズミーティング

毎年ご好評頂いております【 ユーザーズミーティング 】 を本年度も開催いたします。
当社ユーザーの皆様同士の交流と情報交換の場としてぜひご活用いただきたくご案内申し上げます。
皆様のご参加をお待ちしております。

開催日時

2015/2/4(水) 10:30~17:00 (受付開始:10:00~)

プログラム

午前:アルバック・ファイ 分析室より 【10:30~12:00】

  「TOF-SIMS基礎講座 <測定編・解析編>」


午後:ユーザーズミーティング 【13:00~17:00】

ユーザー様ご発表

  株式会社東レリサーチセンター 宮本 隆志 様
   「SIMSによる試料中水分評価」

  独立行政法人物質・材料研究機構 増田 秀樹 様
   「電流-電圧印加機構を用いた全固体型LIBの解析」

  古河電気工業株式会社 大友 晋哉 様
   「TOF-SIMSを用いたIII-V化合物半導体プロセスの評価」

(ご発表者所属機関名の50音順)


情報交換会(コーヒーブレイク)


アルバック・ファイからの発表・お知らせ

  新製品・新技術のご紹介(PHI nanoTOF II™, PHI 4800, HXPS) 他

ユーザーズミーティング終了後に懇親会をご用意しております。奮ってご参加ください。

  • スケジュールは予告なしに変更する場合があります。
  • 本イベントへのご参加は当社装置のユーザー様に限らせていただきます。何卒ご容赦下さい。
  • 本イベント(午前・午後ともに)へのご参加は無料です。
  • 最新情報はホームページにて随時配信いたします。

会場のご案内

三田NNホール&スペース

http://www.mita-nn-hall.com/access/access.html

東京都港区4-1-23 三田NNビル地下1階
JR田町駅 徒歩5分
都営三田線 三田駅直通(A9出口)
都営浅草線 三田駅 徒歩3分