未来を切り拓く
表面分析技術のリーディングカンパニーを目指して

技術革新を支えるアルバック・ファイ

技術革新のスピードが加速する現代において、半導体や電子部品は微細化・高性能化を続け、私たちの生活を支える基盤として、その重要性が一層高まっています。スマートフォンや医療機器をはじめ、これらのデバイスが生み出す価値は、まさに社会の進化そのものを象徴しています。

アルバック・ファイは、最先端技術を駆使した以下の表面分析装置を製造・販売しています。これらの装置は材料の基礎研究はもちろんのこと、半導体や電子部品等における微小領域の高解像度分析を可能にし、お客様の研究開発や生産活動を支えています。

・走査型オージェ電子分光分析装置（AES）
・走査型X線光電子分光分析装置（XPS）
・飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS）
・四重極型二次イオン質量分析装置（Q-pole-SIMS）

私たちは、「目に見えないものをデータ・情報に変える」分析技術を通じて、新たな発見やイノベーション、品質管理や故障解析を支援し、豊かな社会の実現に貢献しています。さらに、真空技術を応用した高度な分析手法に挑み続け、お客様のニーズを先取りした新たな表面分析装置やオプションを市場に提供し続けています。

ソリューションカンパニーとしての責任

アルバック・ファイは、表面分析装置の研究開発からアフターサービスに至るまで、全ての機能を一貫して担うソリューションカンパニーとして、お客様の重要な意思決定を支えるデータ・情報の品質に高い責任を持ち、その価値を最大限に活用いただけるよう、技術提案とサポートにも取り組んでまいります。

また、アルバックグループのビジョンである「未来につながる可能性の場であり続ける」の実現において、私たちの表面分析技術は欠かせない役割を担っています。さらに、表面分析技術にとどまらず、アルバックの薄膜技術とのシナジーを活かし、次世代デバイスの発展に貢献する新たな付加価値を提供してまいります。

挑戦を続けるスペシャリスト集団

アルバック・ファイは、好奇心と探究心を原動力とするスペシャリスト集団として、常に技術の限界に挑み、成長を続けています。

私たちは、いつもそばにいる表面分析のパートナーとして、お客様の課題解決に寄り添い、私たちの技術から生まれるデータ・情報が社会に新たな価値を提供することを目指しています。お客様とともに未来を切り拓く、誠実で信頼されるな表面分析技術のリーディングカンパニーを目指して、これからも歩み続けることをお約束いたします。

皆さまには､引き続きご支援いただけますようお願い申し上げます｡