社長メッセージ

社長メッセージ

技術革新の基盤を支える
表面分析装置の専門メーカーとして

アルバック・ファイ株式会社 代表取締役社長 木村市朗

アルバック・ファイ株式会社
代表取締役社長 木村 市朗

 時々刻々と進化を遂げる最先端の科学技術シーンにおいて、各種分析装置の果たす役割はますます重要度を増してきています。
 近年注目を浴びている、IoT(Internet of Things)やAI(人工知能)、ロボティクス、高機能センサー、生体医療など、新たな価値の創出に向けて各研究機関や関連企業は一刻も早い実現をめざし、それぞれの覇を競い合っています。

 その中にあって、ものづくりの支え役として基礎研究から応用研究にいたる幅広い分野で貢献しているのが表面分析装置です。
 アルバック・ファイ株式会社は、世界で唯一ともいえる表面分析装置の独自開発、製造技術、カスタマーサポートを専門に扱っている日本発の世界トップメーカーです。

 当社は、日本の表面分析技術の黎明期に米国PHI社の総代理店として創業し、2003年にはPHI社の伝統と製造技術を引き継ぎ、表面分析装置の製造・販売を一貫して行うトップメーカーとなりました。
 その後も、当社の独創的な商品開発力と確かな製造技術を注入して、顧客ニーズを先取りした新たな表面分析装置やオプションを市場に投入し続けています。
 さらに、専門の技術スタッフによるきめ細やかなカスタマーサポート、受託分析や分析トレーニング、初心者向けセミナーなどの提供により、当社の表面分析装置の能力を最大限にご利用いただくためのサービス体制も確立しています。また、欧米での営業・サービスおよび技術開発においては、当社の子会社であるPhysical Electronics USA(PHI USA)と連携し、グローバル化を図っています。

 このようにして生み出された「走査型オージェ電子分光分析装置(AES)」、「走査型X線光電子分光分析装置(XPS)」、「飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)」、「二次イオン質量分析装置(D-SIMS)」など、表面分析装置の専門メーカーだからこそなし得る充実したラインアップで、材料評価はもちろんのこと、品質管理や故障解析の現場で求められる専門的、かつ、多様な分析ニーズにもお応えしたいと考えています。

 これからもお客様のご要望をしっかりと受け止め、革新的な技術と独創的な製品を提供し、次世代テクノロジーの開発に貢献していきます。