社長メッセージ

社長メッセージ

先端の技術と使いやすい装置を表面分析装置のトップメーカーとしてご提供する

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アルバック・ファイ株式会社
代表取締役社長 山本 公

お客様のご要望に応えられる製品群をさらに充実

米国PHI社の伝統を引き継いで、2003年から表面分析装置の製造販売を当社で一貫して行っています。そして、顧客満足度の高い装置を供給することで次世代テクノロジーの開発に貢献し続けたいと考えています。

お客様の様々なご要望に応えるため、2003年当時4種類だった製品を7種類に増やしました。たとえば、最近はひとつの装置で複数の分析が出来る複合型分析装置(マルチテクニック装置)のニーズが高くなってきており、これらのニーズに応えられるように「PHI 5000 VersaProbe II」を開発しました。また、分析操作が容易な汎用的装置として、「PHI X-tool」や「PHI 4700 Thin Film Analyzer™」も開発しました。

高度な研究開発では最先端の新機能が求められますし、また、表面分析の用途拡大にともなって、自動分析機能が求められています。今後はこれらのご要望にお応えする製品をさらに開発していきたいと考えています。

GCIBなどの最先端技術を世界に先駆けて商品化してきた実績

アルバック・ファイは新しい情報を与える新技術装置の開発に力を注いでいます。例えば、最先端のクラスターイオン銃として、C60イオン銃やアルゴンガスクラスターイオン銃(GCIB: Gas Cluster Ion Beam)を世界に先駆けて商品化してきた実績があります。

これらの開発を進めるうえで、闊達に意見を言い合える社風の育成にも努力しています。新たな開発を行う場合は、リーダーが部門横断でメンバーを集めてプロジェクトを発足させることにより、柔軟な発想で開発を進めるようにしています。

また、欧米の販売拠点として2003年にPhysical Electronics USA(PHI-USA)を設立しました。日本と欧米ではお客様の要求が異なる場合があり、ご要望をしっかりと技術や製品に反映させるためにPHI-USAでも開発プロジェクトを分担しています。

さまざまな分野で広がる表面分析技術

表面分析は金属・半導体および化学の分野で大きく発展してきましたが、表面分析で行えることは、まだまだ数多くあると思っています。少しでも興味をお持ちでしたら、ぜひ気楽に我々に相談していただき、お客様のニーズと私どものシーズについて情報交換を行っていきたいと考えています。

アルバック・ファイでは、初心者セミナーや技術講演会を東京や大阪で開催して、2013年は名古屋でも行っています。年に1回ユーザーミーティングも開催しているので、ぜひ気軽に参加してください。私どもも、今後はWebでも積極的に情報発信していきます。