News List
販売開始のお知らせ
このたび、高速分光エリプソメーター PHI QuickSE の販売を開始いたしました。 高速分光エリプソメーター PHI QuickSE シリーズ NEW Key Features ・独特なスナップショット方式による最速20 msの高速測定を実現・軽量・コンパクトで、定期メンテ不要かつ低ランニングコスト・誰でも使える抜群の操作性
会社見学会を実施します（新卒向）
採用サイトはこちら
表面分析トピックスを更新しました
表面分析トピックス一覧はこちら
主催イベント（京都）のプログラムを更新しました
２月24日(金)に京都で開催する、主催イベントのプログラムを更新しました。 関西ユーザーズミーティング 日時：2017/2/24（金）会場：メルパルク京都（京都） 詳細ページへ 関西 技術講演会 日時：2017/2/24（金）会場：メルパルク京都（京都） 詳細ページへ
新製品をリリースしました
走査型デュアルＸ線光電子分光分析装置 (XPS) PHI Quantes NEW Key Technology ・硬X線を搭載した走査型デュアルX線光電子分光分析装置・２つの異なるエネルギー線源で広がる応用範囲・PHI Quantes 独自の機能 製品ページへ
MutliPakアップデートファイルを更新しました
MultiPak Version 9.7.0 会員サイト「クラブ・ファイ」でダウンロードいただけます。 ご利用には会員登録が必要です。 詳しくは、クラブ・ファイ トップページをご参照ください。 クラブ・ファイ トップページ
主催イベント開催のお知らせ
当社主催イベントの開催が決定いたしました。最新情報はホームページにて、随時お知らせいたします。 ユーザーズミーティング 日時：2017/2/10（金）会場：三田NNホール＆スペース（東京） 詳細ページへ 関西ユーザーズミーティング 日時：2017/2/24（金）会場：メルパルク京都（京都） 詳細ページへ 関西 技術講演会
イベントレポートを掲載しました
イベントレポート：JASIS 2016はこちら
初心者セミナーを開催いたします
開催日と会場が決定し、参加受付を開始しました。 XPS 初心者セミナー MultiPakによるXPS(ESCA)のデータ処理 日時：2017/1/13（金）10:30～17:00（受付開始 10:00～）会場：アルバック・ファイ株式会社 大阪営業所（大阪） 詳細ページへ
新しいオプションをリリースしました
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS) MS/MSオプション NEW Key Technology ■ MS1 と MS2 の質量イメージと、 スペクトルを同時に取得・表示可能■ MS1 と MS2 は全く同一の分析領域 （検出途中で MS1 と MS2を分けるため）■ 高速でしかも高い質量精度で、 MS2 スペクトルを取得可能■ 最
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