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イベントレポートを掲載しました
イベントレポート：JASIS 2019はこちら
クラブ・ファイ コンテンツを更新しました
過去の発表資料を公開しました ご利用にはクラブ・ファイへの会員登録が必要です。本コンテンツのご利用は「装置ユーザー会員様限定」となります。 JASIS 2019 新技術説明会 [当社発表分] MS/MSを搭載したMS/MSでどんなことがわかるの？[TOF-SIMS] XPSの応用分野を切り拓く！多機能型XPSの最新オプション事例 [XPS]
表面分析トピックスを更新しました
表面分析トピックス：２線源搭載ラボ型HAXPESで拡がる応用範囲はこちら
イベントレポート（更新版）を掲載しました
イベントレポート : 2019 技術講演会 （更新版）はこちら
クラブ・ファイ コンテンツを更新しました
過去の発表資料を公開しました ご利用にはクラブ・ファイへの会員登録が必要です。本コンテンツのご利用は「装置ユーザー会員様限定」となります。 技術講演会 2019 [当社発表分] 表面分析の可能性を拡げる最新技術のご紹介 - HAXPES,UPS/LEIPS,MS/MS - 快適なデータ処理環境と自動化を実現した 新しい解析ソフトウェアのご紹介
クラブ・ファイ コンテンツを更新しました
Webサポート コンテンツを更新しました ご利用にはクラブ・ファイへの会員登録が必要です。本コンテンツのご利用は「装置ユーザー会員様限定」となります。 更新内容： XPS PHI 5000 VersaProbe III：手順を追加 PHI Quantera II：新規公開、手順を追加 TOF-SIMS PHI nanoTOF II：手順を追加
MutliPakアップデートファイルを更新しました
MultiPak Version 9.9.0 会員サイト「クラブ・ファイ」でダウンロードいただけます。 ご利用には会員登録が必要です。 詳しくは、クラブ・ファイ トップページをご参照ください。 クラブ・ファイ トップページ
クラブ・ファイに新たなコンテンツを公開しました
クラブ・ファイ 新コンテンツ：「Webサポート」 装置をお使いいただく上で役立つ手順を動画でご紹介しています。ご利用にはクラブ・ファイへの会員登録が必要です。本コンテンツのご利用は「装置ユーザー会員様限定」となります。 クラブ・ファイ トップページへ
PHI 5000 VersaProbe III 新オプションのご紹介
低エネルギー逆光電子光法（LEIPS） KEY FEARURES 「逆」光電子スペクトルから非占有準位の情報を取得 電子親和力の測定 有機物の低損傷分析 XPS, UPSとの同一点分析 製品ページへ 反射電子エネルギー損失分光法（REELS） KEY FEARURES 表面の電子状態や結合状態を分析
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