News List
JASIS 2016 に出展いたします
JASIS 2016のイベント情報はこちら
アルバック・ファイ 技術講演会 プログラムを更新しました
アルバック・ファイ 技術講演会のイベント情報はこちら
新製品を掲載しました
多機能走査型Ｘ線光電子分光分析装置 (XPS) PHI 5000 VersaProbe III NEW Key Technology ・独自のハードウェアによる高感度マイクロ分析・信頼性の高い自動化技術・究極の深さ方向分解能を追求したハードウェア・豊富なオプション 製品ページへ 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)
アルバック・ファイ 技術講演会の参加受付を開始しました
アルバック・ファイ 技術講演会のイベント情報はこちら
初心者セミナーを開催いたします
開催日と会場が決定いたしました。参加受付も開始しましたので、各詳細ページよりお申込ください。 TOF-SIMS 初心者セミナー TOF-DRによるTOF-SIMSのデータ処理 日時：2016/7/15（金）10:30～17:00（受付開始 10:00～）会場：三田NNホール＆スペース（東京） 詳細ページへ XPS 初心者セミナー MultiPakによ
MultiPakユーザーの皆様へ
MultiPakファイルダウンロードページはこちら
イベントレポートを掲載しました
イベントレポート：2016 ユーザーズミーティングはこちら
クラブ・ファイ「過去の発表資料」を更新しました
過去の発表資料 主催イベントや展示会等で当社が発表した内容（配布資料）を公開しています。 会員サイト「クラブ・ファイ」内で公開しております。 本資料は「装置ユーザー会員様」限定のダウンロードコンテンツです。 2016 ユーザーズミーティング ラボ型 硬X線光電子分光分析装置を用いた測定事例の紹介MS/MSを搭載した PHI nanoTOF II を用いた有機材料の
イベント一覧を更新しました
アルバック・ファイ オンラインセミナー 無料オンラインセミナー（Zoom ウェビナー）は、インターネット上でリアルタイムに開催されるセミナーです。 オンラインセミナー一覧はこちら イベントレポート一覧
製品情報に「アップデートカテゴリ」を追加しました
製品情報はこちら
CONTACT
製品・分析サービス・採用に関するご質問など、お気軽にご相談ください。