NEWS
News List
ニュース一覧
TOF-SIMSの新製品 PHI nanoTOF 3+をリリースしました
飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS） PHI nanoTOF ３+ この1台で微小領域の表面質量分析を極める イオン透過特性に優れたTRIFT型アナライザー（トリプルフォーカス静電アナライザー）を継承しつつ、当社XPSで実績のある試料搬送機構を採用、また、ユニークなイオンビームテクノロジーによりターンキー帯電中和が可能になりました。多試料の自動分析を、低ノイズか
XPSの新製品 PHI GENESIS をリリースしました
フルオート多機能走査型X線光電子分光分析装置 PHI GENESIS 電池開発に欠かせない表面分析技術を先進の自動搬送プラットフォームに集約し、薄膜、界面評価を通して、電池の長寿命化に貢献します。 グローバルサイト 電池開発を飛躍的に加速する最新XPS装置の販売を開始 アルバック・ファイ株式会社（本社、神奈川県茅ヶ崎市
TOF-SIMSの新製品 PHI nanoTOF 3 をリリースしました
対象のページは非公開です。
XPSの新製品 PHI VersaProbe 4 をリリースしました
対象ページは非公開です。
CONTACT
製品・分析サービス・採用に関するご質問など、お気軽にご相談ください。