News List
TOF-SIMSの新製品 PHI nanoTOF 3+をリリースしました
飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS） PHI nanoTOF ３+ この1台で微小領域の表面質量分析を極める イオン透過特性に優れたTRIFT型アナライザー（トリプルフォーカス静電アナライザー）を継承しつつ、当社XPSで実績のある試料搬送機構を採用、また、ユニークなイオンビームテクノロジーによりターンキー帯電中和が可能になりました。多試料の自動分析を、低ノイズか
XPSの新製品 PHI GENESIS をリリースしました
フルオート多機能走査型X線光電子分光分析装置 PHI GENESIS NEW 電池開発に欠かせない表面分析技術を先進の自動搬送プラットフォームに集約し、薄膜、界面評価を通して、電池の長寿命化に貢献します。 グローバルサイト 電池開発を飛躍的に加速する最新XPS装置の販売を開始 アルバック・ファイ株式会社（本社、神奈川県茅ヶ崎市、社長
TOF-SIMSの新製品 PHI nanoTOF 3 をリリースしました
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XPSの新製品 PHI VersaProbe 4 をリリースしました
対象ページは非公開です。
PHI 5000 VersaProbe III 新オプションのご紹介
低エネルギー逆光電子光法（LEIPS） KEY FEARURES 「逆」光電子スペクトルから非占有準位の情報を取得 電子親和力の測定 有機物の低損傷分析 XPS, UPSとの同一点分析 製品ページへ 反射電子エネルギー損失分光法（REELS） KEY FEARURES 表面の電子状態や結合状態を分析
販売開始のお知らせ
このたび、高速分光エリプソメーター PHI QuickSE の販売を開始いたしました。 高速分光エリプソメーター PHI QuickSE シリーズ NEW Key Features ・独特なスナップショット方式による最速20 msの高速測定を実現・軽量・コンパクトで、定期メンテ不要かつ低ランニングコスト・誰でも使える抜群の操作性
新製品をリリースしました
走査型デュアルＸ線光電子分光分析装置 (XPS) PHI Quantes NEW Key Technology ・硬X線を搭載した走査型デュアルX線光電子分光分析装置・２つの異なるエネルギー線源で広がる応用範囲・PHI Quantes 独自の機能 製品ページへ
新しいオプションをリリースしました
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS) MS/MSオプション NEW Key Technology ■ MS1 と MS2 の質量イメージと、 スペクトルを同時に取得・表示可能■ MS1 と MS2 は全く同一の分析領域 （検出途中で MS1 と MS2を分けるため）■ 高速でしかも高い質量精度で、 MS2 スペクトルを取得可能■ 最
新製品を掲載しました
多機能走査型Ｘ線光電子分光分析装置 (XPS) PHI 5000 VersaProbe III NEW Key Technology ・独自のハードウェアによる高感度マイクロ分析・信頼性の高い自動化技術・究極の深さ方向分解能を追求したハードウェア・豊富なオプション 製品ページへ 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)
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