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事業内容
アルバック・ファイ株式会社は、表面分析装置「X線光電子分光分析装置（XPS）」、「二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS, Q-pole-SIMS）」、「走査型オージェ電子分光分析装置（AES）」のトップメーカーとして、先進的な表面分析装置をご提供いたします。
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品質管理から研究開発などのあらゆる場面で、お客様のご意見をしっかりと受け止め、卓越した表面分析技術と充実のアフターサービス体制で様々なご要望にお応えします。また、独創的な製品開発と最先端の表面分析技術を発信することで次世代テクノロジーの開発に貢献いたします。
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