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PHI 5000 VersaProbe III 新オプションのご紹介
低エネルギー逆光電子光法(LEIPS) KEY FEARURES 「逆」光電子スペクトルから非占有準位の情報を取得 電子親和力の測定 有機物の低損傷分析 XPS, UPSとの同一点分析 製品ページへ 反射電子エネルギー損失分光法(REELS) KEY FEARURES 表面の電子状態や結合状態を分析
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