PHI 5000 VersaProbe III 新オプションのご紹介

プロダクト 2019.02.13

低エネルギー逆光電子光法(LEIPS) 

KEY FEARURES

  • 「逆」光電子スペクトルから非占有準位の情報を取得
  • 電子親和力の測定
  • 有機物の低損傷分析
  • XPS, UPSとの同一点分析

反射電子エネルギー損失分光法(REELS) 

KEY FEARURES

  • 表面の電子状態や結合状態を分析
  • 半導体のバンドギャップ測定
  • 水素の相対含有量を比較
  • 炭素のSp2/Sp3結合の判別

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