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新製品(AES) PHI 710 を掲載しました
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新製品(XPS) PHI X-tool を掲載しました
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新製品(XPS) PHI VersaProbe II を掲載しました
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2010年11月より ガスクラスターイオン銃 (GCIB) を搭載した表面分析装置を出荷開始
New Dimensions in Surface Analysis using GCIBアルバック・ファイ株式会社は、2010年11月より、ガスクラスターイオン銃(GCIB)を搭載した表面分析装置の出荷を開始致しました。 〔TOF-SIMS 高空間分解能 マスイメージング〕 図1. マウス脳切片・海馬・錐体細胞の正イオンTOF-SIMSマスイメージ：凍結乾燥後およびAr-G
新製品(XPS) PHI Quantara II を掲載しました
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新製品(AES) PHI 4700 Thin Film Analyzer を掲載しました
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