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アルバック・ファイ 技術講演会の参加受付を開始しました
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新製品を掲載しました
多機能走査型Ｘ線光電子分光分析装置 (XPS) PHI 5000 VersaProbe III NEW Key Technology ・独自のハードウェアによる高感度マイクロ分析・信頼性の高い自動化技術・究極の深さ方向分解能を追求したハードウェア・豊富なオプション 製品ページへ 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)
アルバック・ファイ 技術講演会 プログラムを更新しました
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JASIS 2016 に出展いたします
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イベントレポートを掲載しました
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クラブ・ファイ「データ解析テキスト（TOF-DR）」を公開しました
データ解析テキストダウンロード 当社データ解析ソフトウェアのテキストをダウンロードいただけます。 1.TOF-SIMS：TOF-DRテキストを公開しました。 会員サイト「クラブ・ファイ」内で公開しております。 本資料は「装置ユーザー会員様」限定のダウンロードコンテンツです。 クラブ・ファイ トップページ
初心者セミナーを開催いたします
開催日と会場が決定し、参加受付を開始しました。 XPS 初心者セミナー MultiPakによるXPS(ESCA)のデータ処理 日時：2017/1/13（金）10:30～17:00（受付開始 10:00～）会場：アルバック・ファイ株式会社 大阪営業所（大阪） 詳細ページへ
イベントレポートを掲載しました
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主催イベント開催のお知らせ
当社主催イベントの開催が決定いたしました。最新情報はホームページにて、随時お知らせいたします。 ユーザーズミーティング 日時：2017/2/10（金）会場：三田NNホール＆スペース（東京） 詳細ページへ 関西ユーザーズミーティング 日時：2017/2/24（金）会場：メルパルク京都（京都） 詳細ページへ 関西 技術講演会
MutliPakアップデートファイルを更新しました
MultiPak Version 9.7.0 会員サイト「クラブ・ファイ」でダウンロードいただけます。 ご利用には会員登録が必要です。 詳しくは、クラブ・ファイ トップページをご参照ください。 クラブ・ファイ トップページ
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