Event Information 会期 2026.02.25(水) 対象 一般 【概要】Dynamic-SIMS(D-SIMS)は、極めて高い感度で元素の深さ分布を評価できる分析手法であり、材料・半導体・薄膜評価など幅広い分野で用いられています。今回のウェビナーではSIMSの基本原理を確認したうえで、他の手法との違い、Depth Profileの読み方、測定条件の違いなどを解説します。D-SIMSを使い始めたばかりの方やD-SIMSを活用したい方に向けた超基礎講座です。 #オンラインセミナー SHARE