多機能走査型Ｘ線光電子分光分析装置 (XPS)
PHI 5000 VersaProbe III NEW
Key Technology
・独自のハードウェアによる高感度マイクロ分析
・信頼性の高い自動化技術
・究極の深さ方向分解能を追求したハードウェア
・豊富なオプション
走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)
PHI 4800 NEW
Key Technology
・最高感度の次世代オージェ
・微小部の化学状態分析
・絶縁物を容易に帯電中和
・自動測定による高いスループット分析
関連情報 Links
上記の最新機種を技術講演会で紹介いたします。
- イベント：技術講演会（2016年6月開催）