News List
初心者セミナーを開催いたします
下記日程にて開催が決定いたしましたので、お知らせいたします。 XPS 初心者セミナー MultiPakによるXPS(ESCA)のデータ処理 日時：2015/7/10（金）10:30～17:00（受付開始 10:00～）会場：三田NNホール＆スペース（東京） 詳細ページへ TOF-SIMS 初心者セミナー WinCadenceによるTOF-
クラブ・ファイ「過去の発表資料」を更新しました
過去の発表資料 主催イベントや展示会等で当社が発表した内容（配布資料/抜粋版）を公開しています。 第32回 技術講演会（2015年開催） ラボ型 硬X線光電子分光分析装置の開発紹介 -最新の基礎的なデータを中心に-New Capabilities Under Development for the PHI nanoTOF II 会員サイト「クラブ・ファイ」内で公開しており
表面分析トピックス「硬X線光電子分光とは」を掲載しました
表面分析トピックス「硬X線光電子分光とは」はこちら
イベントレポートを掲載しました
イベントレポート：第32回 アルバック・ファイ 技術講演会はこちら
「JASIS 2015」情報を更新しました
JASIS 2015のイベント情報はこちら
初心者セミナーを開催いたします
下記日程にて開催が決定いたしましたので、お知らせいたします。 XPS 初心者セミナー MultiPakによるXPS(ESCA)のデータ処理 日時：2015/9/18（金）10:30～17:00（受付開始 10:00～）会場：三田NNホール＆スペース（東京） 【本イベントは終了いたしました】 詳細ページへ
TOF-SIMSの新たな可能性を切り開くImaging MS/MSオプションに関する発表
アルバック・ファイ株式会社とPhysical Electronics USA, Inc.は、シアトルで開催された第20回二次イオン質量分析国際会議（SIMS-XX）で、PHI nanoTOF II™に搭載するImaging MS/MSオプションに関してMaastricht大学との共同研究成果を含む以下5件の発表を行いました。 A New Instrument for Parallel TOF
クラブ・ファイ「過去の発表資料」を更新しました
過去の発表資料 主催イベントや展示会等で当社が発表した内容（配布資料）を公開しています。 JASIS 2015 新技術説明会 ラボ型 硬X線光電子分光分析装置の開発紹介 －最新の基礎的データを中心に－ FIB-TOF-SIMSによる最新の有機・無機材料の分析事例 会員サイト「クラブ・ファイ」内で公開しております。 本資料は「装置ユーザー会員様」限定のダウ
イベントレポートを掲載しました
イベントレポート：JASIS 2015はこちら
クラブ・ファイ コンテンツの追加・変更を行いました
会員サイト「クラブ・ファイ」内において、下記項目を追加・変更いたしました。 1.新規ダウンロードコンテンツの追加（装置ユーザー会員様限定）データ解析テキスト [MultiPak,WinCadence] を公開しました。2.公開カテゴリの変更クラブ・ファイ（一般）会員の方でも、MultiPakアップデートファイルをダウンロードいただけるようになりました。 クラブ・ファイをご利用いただく
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