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新製品(AES) PHI 4700 Thin Film Analyzer を掲載しました
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新製品(XPS) PHI Quantara II を掲載しました
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2010年11月より ガスクラスターイオン銃 (GCIB) を搭載した表面分析装置を出荷開始
New Dimensions in Surface Analysis using GCIBアルバック・ファイ株式会社は、2010年11月より、ガスクラスターイオン銃(GCIB)を搭載した表面分析装置の出荷を開始致しました。 〔TOF-SIMS 高空間分解能 マスイメージング〕 図1. マウス脳切片・海馬・錐体細胞の正イオンTOF-SIMSマスイメージ：凍結乾燥後およびAr-G
新製品(XPS) PHI VersaProbe II を掲載しました
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新製品(XPS) PHI X-tool を掲載しました
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新製品(AES) PHI 710 を掲載しました
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多機能走査型Ｘ線光電子分光分析装置 (XPS) PHI 5000 VersaProbe III NEW Key Technology ・独自のハードウェアによる高感度マイクロ分析・信頼性の高い自動化技術・究極の深さ方向分解能を追求したハードウェア・豊富なオプション 製品ページへ 走査型オージェ電子分光分析装置 (AES)
新しいオプションをリリースしました
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS) MS/MSオプション NEW Key Technology ■ MS1 と MS2 の質量イメージと、 スペクトルを同時に取得・表示可能■ MS1 と MS2 は全く同一の分析領域 （検出途中で MS1 と MS2を分けるため）■ 高速でしかも高い質量精度で、 MS2 スペクトルを取得可能■ 最
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