アルバック・ファイ　ユーザーズミーティング

ユーザーズミーティング 2025.02.07

Event Information

会期
2025.02.07（金）
会場
建築会館
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当社の表面分析装置（XPS, AES, SIMS）をお使いの皆様を対象に開催いたします。

お使いの装置に関する日頃の疑問解消の場、今後の参考になる情報を得る場として
ご活用いただければ幸いです。皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要

日時：2025年 2月 7日（金）13:00～17:00（受付開始 12:30）
会場：建築会館

–  建築会館アクセス https://www.aij.or.jp/map.html

プログラム

13:00　開会

ユーザー様ご発表

  • キヤノン株式会社　村山 陽平 様「TOF-SIMSによるトナー粒子の分析事例紹介」
  • 国立研究開発法人 産業技術総合研究所　大塚 照久 様「産総研NPFの原子層堆積装置複合化XPS分析装置とその解析事例紹介」
  • 日本パーカライジング株式会社　田口 秀之 様「ベイズスペクトル超解像によるXPS測定の高速化検討」

アルバック・ファイより

  • Application のご紹介
    • Al Ka線とCr Ka線の情報深さの違いを利用したXPS・HAXPES分析事例
    • 最新TOF-SIMS装置による分析事例の最前線
  • リモート接続のご紹介
    • リモート操作・診断の実際の様子をお見せします
16:40　閉会
17:00　懇親会
※ 途中で複数回の休憩があります。
※ 進行によっては時間は前後する可能性があります。
#ユーザーズミーティング
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