AVS 72 International Symposium and Exhibition

学会・研究会出展 2026.11.08 — 2026.10.18

Event Information

会期
2026.11.08(日) — 2026.10.18(日)
会場
Lawrence Convention Center, Pittsburgh, PA
関連リンク
https://avs72.avs.org/
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当社およびPHI USAから以下の内容で発表いたします。

  • Dr. Juergen Scherer
    Strategies for Reducing Charging of Insulating Samples in Auger Electron Spectroscopy
  • Dr. Shinichi Iida
    TOF-SIMS Depth Profiling of Inorganic–Organic Multilayers Using a Hybrid Sputtering Approach
  • Dr. Amy Ferryman
    TOF-SIMS Workflows for Automated Mineral Grain Identification in Complex Samples
  • Dr. David Valley
    Data-Driven Automation for X-Ray Photoelectron Spectroscopy
  • Dr. Jia Lu
    Analysis of Interfaces by Soft and Hard X-ray Photoemission

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