Event Information 会期 2026.07.22（水） 対象 一般 第1回 TOF-SIMSで何がわかるのかTOF-SIMSは表面に存在する元素や分子の情報を高感度に分析できる手法です。本セミナーでは、TOF-SIMSで何がわかるのかを紹介するとともに、一次イオン照射から二次イオン生成、飛行時間型質量分析までの基本原理をわかりやすく解説します。 #オンラインセミナー SHARE