飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS） PHI nanoTOF ３+ この1台で微小領域の表面質量分析を極める イオン透過特性に優れたTRIFT型アナライザー（トリプルフォーカス静電アナライザー）を継承しつつ、当社XPSで実績のある試料搬送機構を採用、また、ユニークなイオンビームテクノロジーによりターンキー帯電中和が可能になりました。多試料の自動分析を、低ノイズかつ高感度で実現します。さらに、目的に応じて多彩なオプションを選択可能な最新鋭のTOF-SIMSです。 #プロダクト SHARE