Event Information
- 会期
- 2022.02.18（金）
- 会場
- ハイブリッド開催（東京, Live配信）
東京会場での開催は取り止め、オンラインのみの開催といたします。
当社の表面分析装置（XPS, AES, SIMS）をお使いの皆様を対象に、
ユーザーズミーティングを開催します。
お使いの装置に関する日頃の疑問解消や、参考になる情報を交換する場として
ご活用いただければ幸いです。
開催日時と方法（XPS, AES, SIMS 合同開催）
本イベントへのご参加は、当社表面分析装置のユーザー様に限らせていただきます。
開催日時：2022年 2月 18日（金）13:00～17:00
開催方法：ハイブリッド方式（東京会場およびLive配信） →：Zoomによるオンライン開催
– 東京会場：ベルサール八重洲 ［定員：50名］
– オンライン：Zoom Webinar
＜申込受付は終了いたしました＞
【ご案内】
＊お申し込みの際に「会場」を選択された方も、再度のお申し込みや変更のご連絡は不要です。
＊お申し込みいただいた方には、開催前日および当日、Zoom参加のご案内をお送りします。
プログラム
| 12:30 Zoom 入室開始 13:00 開会 ユーザー様ご発表 ■ 日本パーカライジング株式会社 田口 秀之 様 「化成処理皮膜のXPS深さ方向分析における帯電の影響と対策」 ■ 住友電気工業株式会社 星名 豊 様 「独自データ解析技術を活用した表面分析」 ■ 花王株式会社 矢渕 翼 様 「Cryo-TOF-SIMS/SEMによる溶液試料の組成・構造解析」 14:50 アルバック・ファイより □ 新製品のご紹介 □ 営業部からのご案内 □ これまでにいただいたQ&Aのご紹介 17:00 閉会 ※ 途中で2回、休憩を挟みます。 ※ 進行によっては、時間は前後する可能性があります。 |
お知らせと注意事項
- スケジュールは予告なしに変更する場合があります。
- 本イベントへのご参加は当社表面分析装置のユーザー様に限らせていただきます。
- 定員になり次第、締め切らせていただきます。
- 当日のプログラムや詳細は、本ページ内にて随時更新いたします。