アルバック・ファイ 技術講演会

技術講演会 2026.07.10

Event Information

会期
2026.07.10(金)
会場
品川 THE GRAND HALL
入場料
お申し込みが必要です
お申し込みはこちら →

― 半導体を支える分析計測技術 ―

ご好評をいただいております技術講演会を、今年も開催いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。

開催概要

日時:2026年 7月 10日(金)13:00~17:00(受付開始 12:30)
会場:品川 THE GRAND HALL(東京)

–   品川 THE GRAND HALL https://tg-hall.com/access

※例年と開催会場が異なります。

プログラム

13:00 開会
          インフォーマインテリジェンス合同会社
          シニア コンサルティングディレクター 南川 明 様
         『2026年以降の電子機器・半導体の新たな成長シナリオ』
         トヨタ自動車株式会社
         先進技術開発カンパニー WAVEBASE project
         プロジェクト長 庄司 哲也 様
         『WAVEBASEが拓く材料開発DX――多次元分析データを活かし切る新しい開発フロー』
14:50 ー 休憩 ー
15:10  YKK株式会社
          常務執行役員
          テクノロジーイノベーションセンター 技術戦略推進室長 喜多 和彦 様
         『YKKにおける機器分析の活用』
          Physical Electronics
          President Kateryna Artyushkova
         『Analysis of Interfaces by Soft and Hard X-ray Photoemission』
17:00 閉会
※ 進行によって時間は前後する可能性があります。
懇親会
※ 閉会後に、ドリンクと軽食をご用意し、同会場にて行います。
※ 1時間~1時間半程度を予定しております。

詳しい講演内容はこちら

会場のご案内

品川 THE GRAND HALL

https://tg-hall.com/access

〒108-0075 東京都港区港南2-16-4 品川グランドセントラルタワー3階
JR山手線・京浜東北線・横須賀線・東海道本線「品川駅」港南口より徒歩3分
東海道・山陽新幹線「品川駅」港南口より徒歩3分
京急「品川駅」より徒歩8分

お知らせと注意事項

  • ご参加は無料です。
  • 競合他社および営業目的の方のご参加はご遠慮ください。
  • 定員になり次第、申込を締め切らせていただきます。
  • プログラムは予告なしに変更する場合がございます。

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