SurfaceSpectra製品は、表面分析を支援する「経験」と「知恵」の宝庫です。SurfaceSpectraは、スタティックSIMSデータベースとポリマー XPSスペクトルデータベースを中心に、実用分析を支援する知識（ナレッジ）・システムを提供しています。
特長
Edited by John C. Vickerman and David Briggs
TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法）の英語版解説書です。従来の表面分析の教科書は、スタティックSIMS、TOF-SIMSについて若干の紙面を割いて解説していましたが、いまやSIMSの中心となりつつあるTOF-SIMSについて、総合的な解説書といえるものはありませんでした。
本書はTOF-SIMSの基礎的な知見と多面的な応用を幅広く記述した、世界初の教科書です。第二版では、クラスターイオンの利用についての記述が大幅に追加されています。
主な内容
- TOF-SIMS装置
- 二次イオン生成の基礎（理論および実験）
- TOF-SIMS測定を最適化する方法
- スペクトルデータの解釈
- 分析への応用
特に「分析への応用」について、詳しく解説されているのが特長です。
関連情報
TOF-SIMSについてもっと知りたい方はTOF-SIMSとはをご覧ください。TOF-SIMSの原理や特長をご紹介します。