イベント

image:イベント


イベント>

【当社主催】 アルバック・ファイ技術講演会

下記日程・会場にて技術講演会を開催致します。

最先端の技術開発に携わってこられた先生方をお招きして、
表面分析に限らない研究開発と分析の関わりをお話いただく予定です。

なお、本講演会は無料となっておりますので、皆様のご参加をお待ちしております。    
東京会場

日時: 2009年6月3日(水) 時間: 13:00~17:30
会場: 建築会館ホール http://www.aij.or.jp/jpn/hall/
大阪会場

大阪会場につきましては、大阪兵庫を中心に発症している新型インフルエンザの影響で、
開催を中止させていただくことになりました。
このような決断をせざるを得ないこととなりましたことについて何卒ご理解いただき、
ご容赦いただ きますようお願い申し上げます。
なお、お申込いただきましたお客様には個別に 対応をご連絡させていただきます。
誠に申し訳ございません。
プログラム

[ 東京会場 ]

■ Gary A. Korba 様 / 米国 3M Co. 中央研究所
「Application of Polymer Depth Profiling Using ESCA Combined with C60+ Ion Etching」

■ 福井 寛 様 / ㈱資生堂 新成長領域研究開発センター
「美しさを演出する技術 」

■ 山本 清 様 / AGC旭硝子㈱ 中央研究所
「サプライズを目指す分析科学技術」

※パナソニック㈱ 浅田英嗣 様 は、ご都合により講演中止となりました。
※各会場とも、定員になり次第、申し込みを締め切らせて頂きます。
問い合わせ

新型インフルエンザが徐々に広がりを見せており、行事の中止等が報道されております。
今後の感染拡大等により、プログラムの変更 または、講演会そのものの中止等のやむなき措置を取る可能性があります。今後も対応情報をホームページに随時掲載・更新しますほか、
お申し込みを頂いた方にはメール等でご連絡致します。
ご迷惑をおかけ致しますが、何卒ご高配のほどお願い致します。

アルバック・ファイ㈱ 市場開発部 マーケティング室
TEL:0467-85-9469


【ご来場下さい】 <2009分析展> に 出展いたします
【当社主催】 アルバック・ファイ ユーザーズミーティング
【当社主催】 アルバック・ファイ技術講演会
2009年参加予定イベント