イベント

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ユーザーズミーティング

毎年ご好評頂いております【ユーザーズミーティング】を本年度も開催いたします。
当社ユーザーの皆様同士の交流と情報交換の場としてぜひご活用いただきたくご案内申し上げます。
皆様のご参加をお待ちしております。

※最新情報は随時更新いたします。
※ユーザーズミーティングは参加費無料です。
※誠に恐れ入りますが、当社ユーザー様のみの受付とさせて頂きます。

AESユーザーズミーティング（対象：当社AESユーザー様）

日時・会場

２０１１年１２月２日（金）　12：50～17：30（予定）
三田NNホール&スペース（多目的スペース）　【会場へのアクセス】

プログラム

【測定講座】
・アルバック・ファイ株式会社　市場開発部　応用技術室　間宮　一敏
｢イオン銃調整 / デプスプロファイル（仮）」

・フィジカルエレクトロニクス　ジョン・ハモンド　デニス・ポール
　｢PHI 700Xiを用いたナノアナリシス」

・アルバック・ファイ　営業部からのお知らせ

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【ユーザーご発表】
・新日本製鐵株式会社　田中　智仁様
　「鉄鋼材料の粒界破壊分析におけるAESの活用」

・東京大学　霜垣　幸浩様
　「μ-AESを用いたCVDプロセスの初期核発生・製膜機構解析」

・情報交換会

〔終了しました〕
ESCAユーザーズミーティング（対象：当社ESCAユーザー様）

日時・会場

２０１１年１１月２４日（木）　12：50～17：40（予定）
三田NNホール&スペース（多目的ホール）　【会場へのアクセス】

プログラム

【測定講座】
・アルバック・ファイ株式会社　市場開発部　応用技術室　井上　りさよ
｢低損傷XPS測定」

【ユーザーご発表】
・ナミックス株式会社　藤野　拓様
「半導体用封止材メーカーにおけるESCAを用いた不良解析事例」

・日産化学工業株式会社　野原　雄貴様
「高分子薄膜の表面・深さ方向分析～架橋反応解析を中心に～」

・株式会社村田製作所　早川　徳洋様
｢UPS/XPSの価電子帯スペクトルによる材料評価技術｣

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・アルバック・ファイ株式会社　市場開発部　応用技術室　宮山　卓也
　｢ｱﾙｺﾞﾝｶﾞｽｸﾗｽﾀｰｲｵﾝﾋﾞｰﾑ（GCIB）の表面分析への応用-XPSを中心に-｣

・アルバック・ファイ株式会社　技術部　田中　伊吹
　｢XPSオプション紹介｣

・アルバック・ファイ　営業部からのお知らせ
・情報交換会

〔終了しました〕
SIMSユーザーズミーティング（対象：当社SIMSユーザー様）

日時・会場

２０１１年１１月２５日（金）　12：50～17：30（予定）
三田NNホール&スペース（多目的ホール）　【会場へのアクセス】

プログラム

【測定講座】
・アルバック・ファイ株式会社　市場開発部　応用技術室　飯田　真一
｢マスアサイメント」

・アルバック・ファイ株式会社　市場開発部　応用技術室　石崎　逸子
　｢TOF-SIMSによる生体イメージング」

・アルバック・ファイ株式会社　市場開発部　応用技術室　宮山　卓也
　｢ｱﾙｺﾞﾝｶﾞｽｸﾗｽﾀｰｲｵﾝﾋﾞｰﾑ（GCIB）の表面分析への応用-TOF-SIMSを中心に-｣

・アルバック・ファイ　営業部からのお知らせ
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【ユーザーご発表】
・旭化成株式会社　坂部　輝御様
「TOF-SIMSを用いた有機薄膜材料の解析｣

・旭硝子株式会社　山本　雄一様
「SiO₂中Naプロファイルの精密分析」

・情報交換会